microscopia elettronica

Tecnica di osservazione microscopica messa in atto attraverso apparecchi a elevato potere risolutivo che, sfruttando le proprietà ondulatorie di fasci di elettroni, permettono di osservare campioni di grandezze infinitesimali. Ideata nel 1931 dai fisici tedeschi Max Knoll ed Ernst Ruska, ha il vantaggio, rispetto alla microscopia tradizionale basata sulla rifrazione della luce, di offrire risoluzioni fino a centomila volte superiori. Esistono due tipi di microscopi elettronici: quello a trasmissione (TEM, Trasmission Elettron Microscope), che dirige un fascio di elettroni ad alta tensione verso il campione da osservare, ma solo dopo che il fascio ha attraversato una sezione dove è stato creato precedentemente il vuoto; il microscopio elettronico a scansione (SEM, Scanning Electron Microscope), in cui il fascio di elettroni interagisce con il campione da osservare originando dei segnali che sono rielaborati per produrre un’immagine ingrandita del campione. Il TEM ha capacità di ingrandimento superiori ed è indicato per vedere cosa c'è dentro il campione, mentre il SEM rileva solo la superficie e la sua composizione.